Yield Simulation for Integrated Circuits

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Descripción

1. Introduction. - 2. Background. - 3. Defect Models. - 4. Defect Statistics. - 5. Fault Analysis. - 6. VLASIC Implementation. - 7. Redundancy Analysis System. - 8. Fabrication Data. - 9. Conclusions and Current Research. - References. Language: English
  • Marca: Unbranded
  • Categoría: Informática e Internet
  • Idioma: English
  • Número de páginas: 209
  • Fecha de publicación: 2010/12/10
  • Artista: D.M. Walker
  • Editor / Marca: Springer
  • Formato: Paperback
  • Nº de Fruugo : 337854104-741512756
  • ISBN: 9781441952011

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