Gold-Plated TO3P TO-247 Clamp Socket IC Test Adapter 5L For Electronic Device Aging Tests

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Descripción

Gold-Plated TO3P TO-247 Clamp Socket IC Test Adapter 5L For Electronic Device Aging Tests

Efficient aging test and burn-in sockets for mass production lines or repair centers for electronic devices - This aging test and burn-in socket is tailored for tests and screening of 3P and TO247 5L components, making it suitable for high-volume workflows. Improves longevity and functionality with easy-to-use TO3P TO247 5L aging test sockets - Designed as a practical tool for any electronics development lab, these sockets help assess and enhance the long-term performance of electronic devices. High temperature capability with 10A current capacity - Built to handle high temperature environments and a 10A current, suitable for devices ranging from low to high power. Stable performance with gold-plated TO3P TO247 5L AGING TEST SATILEN sockets - Gold-plated construction provides strong antioxidation properties for electronic components, ensuring reliable, consistent operation. Typical use scenarios - In a mass production facility or repair center, screen and test 3P and TO247 5L components efficiently during assembly or service workflows. - In an electronics development lab, perform aging and longevity assessments on prototypes to validate design robustness. - During device burn-in testing for reliability, use these sockets to stress low to high power devices before final integration or shipment.
  • Nº de Fruugo : 393188658-840776068
  • EAN: 633548774562

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Fabricante:
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  • GraceGlimm
  • Shenzhen Tumi Technology Co., Ltd.
  • 202-03, Jinhe Building, 8 Xinhe Street, Maan Tang, Bantian
  • Longgang, Shenzhen, Guangdong
  • China
  • Shenzhen
  • CN
  • 518129
  • pettynfnef@outlook.com
  • 13332965772

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