Characterization of Stress in GaN-on-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy
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Descripción
Characterization of Stress in GaN-on-Sapphire Microelectromechanical Systems Structures Using Micro-Raman Spectroscopy
- Marca: Unbranded
- Categoría: Sociedad y política
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Idioma: English
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Fecha de publicación: 2012/11/29
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Editor / Marca: Biblioscholar
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Formato: Paperback
- Nº de Fruugo : 337695428-741343199
- ISBN: 9781288368518
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